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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-11-21 06:22 |
| 最后更新： | 2023-11-21 06:22 |
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概述：采用電鍍、化學(xué)沉積、機(jī)械鍍覆、噴涂等方式在表面形成改性表面或裝飾美觀表面，評(píng)定表面處理質(zhì)量一種測(cè)試方法。
目的：檢測(cè)涂鍍層厚度或涂鍍層缺陷。
檢驗(yàn)方法
| 金相顯微鏡法 | 采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度。一般厚度檢測(cè)需要大于1um |
| 庫(kù)倫法 | 適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr等。 |
| X-Ray法 | 適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。 |
相關(guān)測(cè)試圖片
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| 高分子基體+預(yù)鍍鎳+鍍銅+銅鎳 | 金屬基體 鍍銅鍍鎳 | 漆膜（底漆+色漆+清漆） |
檢測(cè)步驟
顯微鏡法測(cè)試步驟：切割（鑲嵌）——拋光——直接觀察（侵蝕后觀察）——測(cè)量
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6462 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法
GB/T 4956 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4955 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 陽極溶解庫(kù)侖法
GB/T 4957 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法
GB/T 37361 漆膜厚度的測(cè)定 超聲波測(cè)厚儀法
JB/T 7503 金屬覆蓋層橫截面厚度掃描電鏡測(cè)量方法
QB/T 3817 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測(cè)試方法 金相顯微鏡法
ASTM B748-90 Standard Test Method for Measurement of Thickness of metallic Coatings by Measurement of Cross Section with a Scanning Electron Microscope
ISO 1463 metallic and oxide coatings—Measurement of coating thickness- Microscopical method