集成電路封裝與測(cè)試，變壓器開(kāi)路試驗(yàn)

集成電路的構(gòu)成在不斷發(fā)展。電路中所需的晶體管、電容、電阻以及其他有源和無(wú)源元件集成在微小的半導(dǎo)體晶圓上，并使用集成電路（Integrated Circuit，IC）進(jìn)行安裝，該集成電路采用一定的處理方法并遵循特定的電路連接。它轉(zhuǎn)變?yōu)槿萜鲀?nèi)的微觀結(jié)構(gòu)，可以執(zhí)行某種電路或系統(tǒng)功能。

最早的集成電路使用電子管，后來(lái)使用晶體管。集成電路的電子元件正在呈指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)并朝著小型化方向發(fā)展。當(dāng)今電子產(chǎn)品的日常使用經(jīng)常受到集成電路損壞的影響，從而導(dǎo)致一個(gè)或多個(gè)部件發(fā)生故障。那么如何判定集成電路的好壞呢？