三綜合環(huán)境試驗箱  溫度濕度振動 -65℃～+180℃（可選）降速1-15°C/min可選 帶振動臺

三綜合環(huán)境試驗箱  溫度濕度振動溫度濕度可選 帶振動臺

      三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）產(chǎn)品概述

產(chǎn)品概述

三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）、三綜合環(huán)境試驗箱、三綜合高低溫箱、 三綜合溫度濕度振動環(huán)境試驗箱、 三綜合可靠性試驗箱模擬溫度、濕度氣候試驗與振動等力學(xué)應(yīng)力試驗集成一體。

   DE-THVCT系列三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）模擬溫度、濕度氣候試驗與振動等力學(xué)應(yīng)力試驗集成一體。試驗系統(tǒng)工作時，將(高溫或低溫，溫度變化) 濕度、振動以按規(guī)定的組合方式和周期性空間，同時或分別施加到樣品上，與單一試驗作用相比，具有環(huán)境模擬更真實、試驗效率更高等優(yōu)點，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于航空航天、船舶、汽車、電池等電子產(chǎn)品對環(huán)境適應(yīng)性，使用可靠性的考核與評定，應(yīng)用于電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的早期發(fā)現(xiàn)及工藝缺陷的篩選場合。

依據(jù)標準

三綜合環(huán)境試驗箱主要依據(jù)標準和試驗方法

* GB2423.1-2008/IEC電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

*GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

*GJB150.3A－2009 高溫試驗方法

*GJB150.4A－2009 低溫試驗方法

* GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

*GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

*GJB 濕熱試驗方法

*G/BT 2423.4-2008/IEC:2005 試驗Db:交變濕熱方法

*GB/T5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

*GB/T濕熱試驗箱技術(shù)條件

*GB/T 低溫試驗箱技術(shù)條件

規(guī)格參數(shù)及型號

型號及后綴代碼

公司主要產(chǎn)品涵蓋了恒溫恒濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、三綜合試驗機/系統(tǒng)、冷熱沖擊試驗箱、鹽霧試驗箱、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗機、拉力試驗機、紫外線耐氣候試驗機等數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。經(jīng)營產(chǎn)品可以應(yīng)用于科研﹑高校、汽車、船舶、電子﹑LED、橡膠、塑料、電工﹑玩具、通信、電纜、化工等領(lǐng)域。

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