5試樣

5.1試樣應(yīng)直接從產(chǎn)品 上截攻。攻樣部位和哎樣數(shù)量應(yīng)按相應(yīng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。5.2試樣取樣尺寸推薦如卜:

ü）板帶材取15mm× l5 mm正方形樣;

b）管棒材沿軸向取10mmr~-15mm長(zhǎng)圓環(huán)樣或圓片樣。

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5.3 試杼制備方法按照YS/T 449規(guī)定進(jìn)行。

6晶粒度測(cè)定方法

6.1比較法

6.1.1比較法是通過(guò)被測(cè)試樣的圖像與標(biāo)準(zhǔn)圖對(duì)比來(lái)測(cè)定試樣品粒度。

6.1.2試樣制好后，在放大100倍的倍率下，通過(guò)金相顯微鏡拍出有代表性視場(chǎng)的顯微照片或直接通過(guò)日鏡觀察，與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片附錄A直接比較，選出與試樣圖像*接近的標(biāo)準(zhǔn)圖片，作為試樣的品粒度，報(bào)出品粒度值。每個(gè)試樣截面上應(yīng)選擇三個(gè)或三個(gè)以上有代表性視場(chǎng)進(jìn)行比較。

6.1.3當(dāng)試樣晶粒度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片所包括的范圍時(shí)，可采用合適的放大倍率M。在此放大倍率下的晶粒圖像與標(biāo)準(zhǔn)放大倍率（100×)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片進(jìn)行比較，找出*接近的圖片后，按表2查對(duì)，報(bào)出實(shí)際晶粒度。