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GPIO信號完整性測試,電源紋波測試,眼圖測試,下降時(shí)間測試SI信號測試

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-13 14:16
最后更新: 2023-12-13 14:16
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GPIO信號完整性測試,電源紋波測試,眼圖測試,下降時(shí)間測試SI信號測試


5. D, 這些晶體管的發(fā)射** E 或源** S 都接到地線上, 只要有一個(gè)晶體管飽和, 這個(gè)結(jié)點(diǎn)(線)就被拉到地線電平上. 因?yàn)檫@些晶體管的基**注入電流(NPN)或柵**加上高電平(NMOS),晶體管就會飽和, 所以這些基**或柵**對這個(gè)結(jié)點(diǎn)(線)的關(guān)系是或非 NOR 邏輯. 如果這個(gè)結(jié)點(diǎn)后面加一個(gè)反相器, 就是或 OR 邏輯. 其實(shí)可以簡單的理解為:在所有引腳連在一起時(shí),外接一上拉電阻,如果有一個(gè)引腳輸出為邏輯0,相當(dāng)于接地,與之并聯(lián)的回路“相當(dāng)于被一根導(dǎo)線短路”,所以外電路邏輯電平便為0,只有都為高電平時(shí),與的結(jié)果才為邏輯1。


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