單價: | 面議 |
發(fā)貨期限: | 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨 |
所在地: | 廣東 深圳 |
有效期至: | 長期有效 |
發(fā)布時間: | 2023-12-13 19:16 |
最后更新: | 2023-12-13 19:16 |
瀏覽次數(shù): | 202 |
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億博檢測可提供高低溫測試服務,實驗室具備高低溫等環(huán)境可靠性試驗CNAS測試資質(zhì)和測試能力,可提供第三方高低溫測試服務,并可出具認可的中英文檢測報告。
我司可開展高低溫測試溫度范圍:
低溫試驗:-70℃~常溫;
高溫試驗:常溫~500℃;
恒定濕熱試驗:溫度范圍(-70℃-150℃),濕度范圍(20%~98%RH);
交變濕熱試驗:溫度范圍(-70℃-150℃),濕度范圍(20%~98%RH);
溫度變化試驗:-70℃~170℃;
低溫/低氣壓試驗:氣壓(0.5kPa-100kPa),溫度范圍(-15℃~常溫);
高溫/低氣壓試驗:氣壓(0.5kPa-100kPa),溫度范圍(-15℃~200℃);
溫度/濕度試驗:溫度范圍(-70℃-150℃),濕度范圍(20%~98%RH);
未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗:溫度范圍(105℃-145℃),濕度范圍(75%~****RH);
恒定濕熱試驗:溫度范圍(-70℃-150℃),濕度范圍(20%~98%RH);
我司可開展以下標準高低溫測試服務:
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第3部分:高溫試驗》
GB/T 2423.2-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第4部分:低溫試驗》
GB/T 2423.1-2008/IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第5部分:溫度沖擊試驗》
GJB《軍用設備環(huán)境試驗方法溫度—高度試驗》
GB/T 2423.22-2012/IEC 4:2009《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化》
GB/T 2423.3-2016/IEC :2012《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗》
GB/T 2423.40-2013/IEC :1994《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱》
GB/T 2423.50-2012/IEC :1995《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》
IEC :1995+A1:2019《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗》
GJB《軍用裝備試驗室環(huán)境方法第9部分:濕熱試驗》
GB/T 2423.4-2008(IEC :2005)《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))》
GB/T 2423.34-2012(IEC :2009)《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》
IEC :2021《環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗》