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發(fā)布時(shí)間: | 2023-12-13 21:36 |
最后更新: | 2023-12-13 21:36 |
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高速連接器 信號(hào)完整性測(cè)試 RJ45器件
應(yīng)用領(lǐng)域:高速連接器 信號(hào)完整性測(cè)試 RJ45器件
在新的數(shù)字系統(tǒng)中,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換及傳輸?shù)乃俾释荚趲讉€(gè)千兆比特,因此必須把連接器作為整個(gè)傳輸線的一部分考慮進(jìn)去,包括阻抗、傳播延遲、時(shí)滯和串?dāng)_等因素。
由于背板是互連系統(tǒng)總線的核心交換連接部分,所以背板上傳輸?shù)男盘?hào)速率通常是系統(tǒng)內(nèi)最高的,這對(duì)背板連接器的SI性能也提出更高要求。
相對(duì)于集成電路的封裝,印制電路板上的傳輸線以及連接器,由于幾何尺寸相對(duì)較大,更容易進(jìn)入“分布參數(shù)模型”,即高速信號(hào)互連通道。PCB互連線、連接器以及布置在上的元件構(gòu)成了電子設(shè)備互連系統(tǒng)的主要組成部分,信號(hào)通過印制板互連線以及連接器擴(kuò)展到其他的印制板上,從而構(gòu)成了整個(gè)背板系統(tǒng)。連接器作為整個(gè)互連系統(tǒng)的關(guān)鍵部位,已經(jīng)成為提高系統(tǒng)傳輸速率的瓶頸,因此,研制滿足高速率傳輸性能的連接器,是提升系統(tǒng)高速互連性能的主要手段,也是解決信息化系統(tǒng)高速互連問題的關(guān)鍵因素。
產(chǎn)品特點(diǎn):高速連接器 信號(hào)完整性測(cè)試 RJ45器件
在傳統(tǒng)數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,高速互聯(lián)現(xiàn)象常??梢院雎圆挥?jì),因?yàn)樗鼈儗?duì)系統(tǒng)的性能影響很微弱。然而,隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展,在眾多決定系統(tǒng)性能的因素里,高速互聯(lián)現(xiàn)象正起著主導(dǎo)作用,常常導(dǎo)致一些不可預(yù)見問題的出現(xiàn),極大的增加了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。
在高速信號(hào)鏈路中,如果信號(hào)沿互聯(lián)傳播時(shí)受到的瞬時(shí)阻抗發(fā)生變化,則一部分信號(hào)將被反射,另一部分發(fā)生失真并繼續(xù)傳播下去,這是很多SI問題產(chǎn)生的主要原因。影響阻抗的因素很多,包括走線周圍介質(zhì)的介電常數(shù)、介質(zhì)厚度、線寬、以及參考平面的連續(xù)性,尤其高速連接器處過孔,容性較大,阻抗較低,常常出現(xiàn)阻抗不連續(xù)問題。
針對(duì)高速連接器處過孔不連續(xù),通常大家使用高密壓接連接器,這種連接器避免焊錫,同時(shí)在連接高速線過孔處進(jìn)行挖洞處理,降低過孔處容性,提高阻抗,保證其阻抗連續(xù)性。雖然過孔挖洞會(huì)優(yōu)化阻抗連續(xù)性,但是忽略了板厚,同樣的挖洞大小放在不同板厚的板子上,帶來(lái)的阻抗優(yōu)化效果并不相同。
北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測(cè)試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。
高速電路測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目有:① SI信號(hào)完整性測(cè)試,主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測(cè)試、URAT測(cè)試、網(wǎng)口測(cè)試、USB2.0/USB3.0測(cè)試、MIPI測(cè)試、HDMI測(cè)試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測(cè)試。② PI電源完整性測(cè)試,主要內(nèi)容是電源的電壓值(精度)、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。