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產(chǎn)品高加速HALT試驗依據(jù)基礎標準GB/T《電工電子產(chǎn)品加速試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則》進行測試。

試驗應力：高溫步進、低溫步進、快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機振動等測試應力類型。

試驗項目：

常溫性能試驗；

溫度均勻性測試；

低溫步進試驗；

高溫步進試驗；

快速溫度循環(huán)試驗；

振動步進試驗；

快速溫變循環(huán)與振動步進綜合試驗。

高加速壽命（HALT）試驗簡介：

高加速試驗一般分為高加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預先設定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應力，直至失效，試驗中需要對產(chǎn)品進行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應力篩選,應力低于HALT試驗?？砷_展的Halt/Hass試驗，提供低溫步進應力試驗、高溫步進應力試驗、振動步進應力試驗、快速熱循環(huán)試驗和綜合應力試驗，在這些試驗過程中，往往伴隨著工作應力如產(chǎn)品開/關機，電壓位偏，頻率拉偏等。

HALT用以暴露與產(chǎn)品設計有關的早期失效故障，同時也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機故障的壯實度；HASS應用于產(chǎn)品制造階段，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關的早期失效率。產(chǎn)品的HALT試驗總是先于HASS試驗進行，因為HASS試驗剖面圖參數(shù)要根據(jù)HALT的試驗結果來確定。

HALT采用對樣品系統(tǒng)地施加步進應力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應力（振動、溫度和濕度等）、附加應力（電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等）和工作應力來快速激發(fā)產(chǎn)品的設計缺陷，暴露設計薄弱環(huán)節(jié)，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，從而在短期內(nèi)為產(chǎn)品改進設計提供信息。在應力步進施加過程中各量級應力可以大大走出技術規(guī)范極限。