品牌: | DENKA |
型號(hào): | 電化TFE |
產(chǎn)地: | 日本原裝進(jìn)口 |
單價(jià): | 80.00元/個(gè) |
發(fā)貨期限: | 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨 |
所在地: | 江蘇 蘇州 |
有效期至: | 長(zhǎng)期有效 |
發(fā)布時(shí)間: | 2023-12-15 09:56 |
最后更新: | 2023-12-15 09:56 |
瀏覽次數(shù): | 142 |
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電化TFE可以在鎢單晶針狀物的表面上形成覆有鋯和氧的吸附層,從而被當(dāng)作減少鎢的功函數(shù)的肖特基發(fā)射極來(lái)使用。不但具有超過(guò)單晶體LaB6陰極100倍以上的光亮度而且能量偏差小,即使是低加速電壓也可以有縮小探頭直徑的可能性。因此適合應(yīng)用在半導(dǎo)體材料和設(shè)備機(jī)械的表面觀察上。 此外,不僅放射電流是極其穩(wěn)定的,還壽命長(zhǎng),因此以半導(dǎo)體檢查裝置或電子束曝光設(shè)備為首,在各種電子束應(yīng)用設(shè)備上被使用采納。
通過(guò)先進(jìn)的針加工技術(shù),制造出多種大小范圍的曲率半徑的芯片。
因?yàn)槠钚?,所以具備再現(xiàn)性能好的電子發(fā)射特點(diǎn)。
可以對(duì)應(yīng)指定的電子槍的配置。
此外,也可以提供芯片,壓縮機(jī),引出電極為一體的模塊形式。
高分辨率掃描電子顯微鏡,透射分析電子顯微鏡,半導(dǎo)體測(cè)試裝置(CD-SEM,DR-SEM EBI),電子束曝