seline; color: rgb(51, 51, 51); display: inline-block; height: 45px; overflow: hidden; background: rgb(233, 233, 233); text-wrap: wrap;">溫升測(cè)試的目的

評(píng)判產(chǎn)品在溫度變化條件下的存貯或工作適應(yīng)性。 鑒定性試驗(yàn)?zāi)康氖菣z查產(chǎn)品是否達(dá)到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求；改進(jìn)試驗(yàn)主要用做評(píng)定產(chǎn)品在溫度變化條件下的耐久性和可靠性適應(yīng)能力 

seline; color: rgb(51, 51, 51); display: inline-block; height: 45px; overflow: hidden; background: rgb(233, 233, 233); text-wrap: wrap;">溫升測(cè)試條件和流程

測(cè)試條件

電壓：額定電壓的上限和下限或額定電壓范圍的上限和下限

頻率：額定頻率的上限和下限或額定頻率范圍的上限和下限
負(fù)載：正常工作時(shí)的大負(fù)載或負(fù)載組合中的嚴(yán)重情況（輸入電流大的情況）。
環(huán)境：如做UL認(rèn)證，可在常溫下進(jìn)行測(cè)試。如做TUV認(rèn)證，須在高的工作溫度下進(jìn)行測(cè)試。
注：如果在常溫上進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)試，須考慮換算問(wèn)題：測(cè)得的溫度加上高工作環(huán)境溫度與常溫之間的差值，即得到終的溫度。
熱電偶的位置：
所有關(guān)鍵性元器件。如在相同或類似的位置，可取其中的一個(gè)。

注：關(guān)鍵性元器件可參考本資料的第2章“安規(guī)元器件”。

測(cè)試流程

1、確定受測(cè)的元器件。
2、將熱電偶粘到受測(cè)的元器件上。注意熱電偶的位置，應(yīng)是可能的發(fā)熱嚴(yán)重的地方。
3、開機(jī)，將輸入電壓調(diào)到額定電壓的上限或額定電壓范圍的上限，輸入頻率調(diào)到額定頻率的下限或額定頻率范圍的下限，輸出負(fù)載調(diào)到要求的大小。
4、讓受試設(shè)備持續(xù)工作，直至受試設(shè)備達(dá)到熱平衡。
5、記錄熱電偶的讀數(shù)。
 注：如果熱電偶的讀數(shù)在30分鐘內(nèi)的變化小于1℃，則可認(rèn)為熱電偶達(dá)到了熱平衡。

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