鍍層厚度是衡量電鍍層品質(zhì)的重要指標(biāo)之一。它直接影響鍍件的耐蝕性、裝配 '勝 導(dǎo)電性以至產(chǎn)品的可靠性。測(cè)定方法分無(wú)損法和破壞法。 前者包括重量法、磁性法、渦流法"R射線反射法.x 射線熒光 法、機(jī)械量具法等;后者包括溶解法、液流法、點(diǎn)滴法、庫(kù)侖法、 金相顯微鏡法、輪廓儀法、干涉顯微鏡法等。這些測(cè)量方法都 有各自的特點(diǎn)和局限性，很準(zhǔn)相互取代。但磁性法應(yīng)用*廣

項(xiàng)目介紹：

鍍層厚度檢測(cè)：金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測(cè)材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝，提高效益。

應(yīng)用領(lǐng)域：

樣品表面金屬鍍層

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法

ASTM B487-1985(2007) 用橫斷面顯微觀察法測(cè)定金屬及氧化層試驗(yàn)方法

ISO 1463-2003 金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測(cè)定.顯微鏡法