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電子產(chǎn)品冷熱沖擊溫變測試方法介紹

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-15 16:06
最后更新: 2023-12-15 16:06
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溫變測試溫度變化試驗(yàn),為設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)變。

  在實(shí)際應(yīng)用中有兩類:

  一類為慢速的溫度變化試驗(yàn),其溫度變化速率<3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min),也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變試驗(yàn)(此三類為一種試驗(yàn));

  另一類為的溫度變化試驗(yàn),其溫度變化速率≥3℃/min,也既一般應(yīng)用中的溫變試驗(yàn)。溫度變化速率越快,考核越嚴(yán)酷。

溫度變化試驗(yàn)的特點(diǎn):

  產(chǎn)品在試驗(yàn)中工作、溫度變化的速率一定。溫度變化速率一般為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min,15℃/min,20℃/min,25℃/min。

  本試驗(yàn)適用于組件、裝備或其它產(chǎn)品。為產(chǎn)品模擬帶電工作時(shí)隨溫度的變化,如在系統(tǒng)/組件工作時(shí)改變周圍溫度。如果系統(tǒng)/組件處在熱浸透溫度(例如安裝在發(fā)動機(jī)上的系統(tǒng)/組件),高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產(chǎn)品在這期間的基本功能。為避免系統(tǒng)/組件內(nèi)的電熱擴(kuò)散抑制系統(tǒng)/組件達(dá)到低溫的效果,故在降溫階段將產(chǎn)品關(guān)閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障溫度循環(huán)效應(yīng):喪失電性功能,潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用,焊點(diǎn)裂化、PCB脫層、結(jié)構(gòu)喪失機(jī)械強(qiáng)度與塑性變形,玻璃與光學(xué)制品破裂,焊點(diǎn)裂錫,零件特性能退化,斷裂,移動件松弛,材料收縮膨脹,氣密與絕緣保護(hù)失效.

  參考標(biāo)準(zhǔn)

  GB/T2423.34

  IEC

  GJB150.5

冷熱沖擊試驗(yàn)是用高溫和低溫沖擊測試產(chǎn)品的試驗(yàn),考核產(chǎn)品對于周圍空氣溫度的激烈變化的適應(yīng)性。常見的冷熱沖擊參考標(biāo)準(zhǔn)有國標(biāo)GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》,IEC基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范.第2部分 試驗(yàn)N 溫度變化)。

  國標(biāo)GB 2423里高溫試驗(yàn)的將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后,在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。對于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品(即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品),應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電,根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測。這種情況下,可能還需要一段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定,然后試驗(yàn)樣品在該高溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。

冷熱沖擊試驗(yàn)各類標(biāo)準(zhǔn)中的冷熱沖擊試驗(yàn)均來源于IEC 試驗(yàn)方法N:溫度變化中的Na 。在特定時(shí)間內(nèi)溫度變化試驗(yàn)。它的定義在特定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行溫度變化,轉(zhuǎn)換時(shí)間一般設(shè)定為手動2~3 分鐘,自動少于30 秒,小試件則少于10 秒。常用術(shù)語中的溫度沖擊試驗(yàn)也屬于冷熱沖擊試驗(yàn)。

  冷熱沖擊試驗(yàn)有幾個(gè)重要參數(shù)需要考慮:循環(huán)數(shù)、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間、溫度保持時(shí)間、溫度極限值(因此項(xiàng)試驗(yàn)為存儲類試驗(yàn),故其極限值為存儲極限溫度值)。


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