HN1000B 斷路器剩余電流保護器動作特性測試儀（分A型AC型B型F型） B型剩余電流斷路器測試儀（以下簡稱測試儀）是為剩余電流斷路器的性能測試而研制，它是檢測B型剩余電流斷路器脫扣電流和分?jǐn)鄷r間的關(guān)鍵儀器。
測試儀適用于電子式和電磁式的剩余電流斷路器。
1P+N、2P、、+N、4P的斷路器均能測試，輸出大剩余電流為2A。
系統(tǒng)顯示和操作采用流行的工業(yè)級觸摸屏，操作簡單； 接地方式：可靠接地   測試儀輸出的電流值為真有效值，測試不確定度小于1%； （2）50Hz交流剩余電流范圍：0~2A； 選項角為0°的脈動直流剩余電流，電流的范圍為0~800mA； 選項角為135°的直流剩余電流，電流的范圍為0~200mA； （5）疊加平滑直流的范圍為5~100mA；  θjA是相對于環(huán)境溫度的結(jié)點熱阻抗，基于印刷電路板(攝氏度/W)的封裝，通常是在150℃的典型結(jié)溫(有些部件的結(jié)溫可能較低，需在數(shù)據(jù)表上確認(rèn))條件下計算出來的。
所需θjA應(yīng)為如下方程式：≤(結(jié)溫-工作溫度)/Pd(等式2)。
濾掉封裝中的器件，這樣θjA比滿足此初始結(jié)溫要求的上述計算結(jié)果要低。
在結(jié)溫時操作會影響其可靠性。
視電路板、氣流、環(huán)境和附近的其他熱源而定，留一定的余量始終是一個很好的設(shè)計實踐。
從上述原理可知，諧波源負(fù)載是否會對同一個電網(wǎng)上的電子設(shè)備造成干擾，主要取決于電子設(shè)備的電源線輸入端電壓諧波畸變的大小，以及電子設(shè)備供電電源的抗干擾能力。
諧波源負(fù)載產(chǎn)生同樣的諧波電流的情況下，與變壓器之間的距離越遠(yuǎn)，則對應(yīng)的電網(wǎng)阻抗越大，引起的電壓畸變就越大，越容易對同一個電網(wǎng)上的電子設(shè)備形成干擾。
而不同的電子設(shè)備抗畸變電壓的能力也有優(yōu)劣之分，在同一供電網(wǎng)絡(luò)，某臺電子設(shè)備會受干擾，并不意味著所有的電子設(shè)備在這個位置都會受干擾。
一般來說，時鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時鐘頻率的增加，CPU就會變得越來越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過高的溫度會影響系統(tǒng)的運行，所以有必要采取措施來“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限制在一定溫度范圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運行。
由于二極管制造工藝的特殊性，我們可以利用二極管的伏安特性來測量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：眾所周知，將PN結(jié)用外殼封裝起來，并加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡稱為二極管。