低溫老化測(cè)試介紹

低溫老化測(cè)試是指在低溫下對(duì)材料進(jìn)行長時(shí)間的暴露和檢測(cè)，以模擬材料在極端寒冷環(huán)境下的使用情況。該測(cè)試可用于評(píng)估材料的性能和耐久性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和材料選型提供參考。

測(cè)試項(xiàng)目

低溫老化測(cè)試主要涉及以下測(cè)試項(xiàng)目：

拉伸強(qiáng)度 抗壓強(qiáng)度 斷裂伸長率 硬度 變形率 測(cè)試條件

低溫老化測(cè)試的溫度范圍一般在-50℃～-80℃左右，根據(jù)測(cè)試要求和標(biāo)準(zhǔn)可以進(jìn)行多個(gè)常溫時(shí)間段或者長時(shí)間單次測(cè)試，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)間一般為24、48、72小時(shí)，也可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行長時(shí)間測(cè)試。

國內(nèi)外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

目前國內(nèi)外常用的低溫老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有：

ASTM DGB/T ASTM G26-10 JASO M樣品要求

低溫老化測(cè)試樣品應(yīng)符合以下要求：

樣品應(yīng)取自符合設(shè)計(jì)、生產(chǎn)等技術(shù)要求的產(chǎn)品件。 材料在制備時(shí)應(yīng)符合產(chǎn)品要求，完全干燥。 樣品應(yīng)有代表性。 測(cè)試流程

測(cè)試過程如下：

樣品的大小、形狀應(yīng)符合測(cè)試的要求。 將樣品在規(guī)定溫度下老化一定時(shí)間。 將老化后的樣品進(jìn)行測(cè)試。 根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，制作測(cè)試報(bào)告。 測(cè)試報(bào)告

測(cè)試完成后，將按測(cè)試報(bào)告的要求，將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、整理和評(píng)估。并按照標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求制作測(cè)試報(bào)告，該報(bào)告應(yīng)包括樣品信息、測(cè)試方法、測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果等內(nèi)容。

如何申請(qǐng)

如需進(jìn)行低溫老化測(cè)試，請(qǐng)?zhí)崆奥?lián)系認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行申請(qǐng)。申請(qǐng)流程包括提交申請(qǐng)表、確認(rèn)測(cè)試項(xiàng)目和樣品要求、繳納費(fèi)用、提交樣品等步驟，申請(qǐng)完成后即可進(jìn)行測(cè)試。