高加速老化試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設計缺陷和不足的過程。老化試驗的目的是在產品開發(fā)的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產品的可靠性。

高加速老化試驗是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發(fā)現產品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。試品通過HALT所暴露的缺陷，涉及線路設計、工藝、元部件和結構等方面。HALT的主要目的是在產品設計和試產階段，通過試驗，快速發(fā)現產品的潛在缺陷，并加以改進和驗證，從而增加產品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。

在產品研制階段，為得出產品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進的方法給產品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產品失效為止。為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據。

高加速老化試驗：以連續(xù)的測試、失效分析、缺陷改進及驗證構成了整個程序，而且可能是個閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個測試計劃，需要重復進行幾次，除非一次性能經受加速應力試驗。其關鍵在于分析失效的根本原因。

高加速老化試驗的主要功能如下：

1．利用高環(huán)境應力將產品設計缺陷激發(fā)出來，并加以改善；

2. 了解產品的設計能力及失效模式；

3. 作為高應力篩選及制定品質核查規(guī)格的參考；

4. 快速找出產品制造過程的瑕疵；

5. 增加產品的可靠性，減少維修成本；

6. 建立產品設計能力數據庫，為研發(fā)提供依據并縮短設計制造周期。