IEC 詳細(xì)說(shuō)明了適用于非散熱和散熱樣品的低溫測(cè)試。僅當(dāng)在自由空氣條件下（即低空氣速度循環(huán)）測(cè)量的樣品表面上的*熱點(diǎn)達(dá)到溫度穩(wěn)定后，比周圍大氣的環(huán)境溫度高出 5K 以上，才認(rèn)為該樣品具有散熱性。需要做IEC60068標(biāo)準(zhǔn)低溫測(cè)試報(bào)告優(yōu)耐檢測(cè)可進(jìn)行辦理。

IEC 低溫測(cè)試的目的：

IEC 低溫測(cè)試的目的是確定組件、設(shè)備或其他物品在低溫下使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存的能力。本標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的低溫測(cè)試無(wú)法評(píng)估樣品在溫度變化期間承受或操作的能力。在這種情況下，有必要使用 IEC 4。

IEC 低溫測(cè)試分類：

該測(cè)試旨在確定設(shè)備或組件在低溫下使用、儲(chǔ)存或運(yùn)輸?shù)哪芰?。該方法使用恒定的低溫條件。

IEC 中的測(cè)試細(xì)分如下：

非散熱試樣的低溫測(cè)試

1、隨著溫度的逐漸變化，Ab；

散熱試件的低溫測(cè)試

2、隨著溫度的逐漸變化，Ad，

3、隨著溫度的逐漸變化，樣品始終通電，Ae。

對(duì)于非散熱樣品，測(cè)試 Ab 和 Ad 與之前的問(wèn)題沒(méi)有本質(zhì)上的偏差。添加測(cè)試 Ae 主要是為了測(cè)試設(shè)備，這些設(shè)備需要在整個(gè)測(cè)試期間（包括調(diào)節(jié)期）保持運(yùn)行。

IEC 低溫測(cè)試能力：

深圳優(yōu)耐檢測(cè)環(huán)境與可靠性檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備低溫試驗(yàn)箱，具備以下低溫測(cè)試能力。

1.容積≤1m3，-40℃ ~ 常溫；

2.容積≤ 0.08m3，-70℃ ~ 常溫。

IEC 低溫測(cè)試報(bào)告辦理流程：

1.業(yè)務(wù)咨詢：申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料、圖片及測(cè)試要求給我司；

2.工程報(bào)價(jià)：根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料，工程師作出評(píng)估，并向申請(qǐng)方口頭報(bào)價(jià)；

3.提供資料：申請(qǐng)方接受口頭報(bào)價(jià)后，測(cè)試樣品提交到我司；

4.支付款項(xiàng)：收到樣品后向申請(qǐng)方發(fā)出書面報(bào)價(jià)，申請(qǐng)方根據(jù)書面報(bào)價(jià)安排付款；

5.樣品測(cè)試：依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試；

6.出具報(bào)告：測(cè)試完成實(shí)驗(yàn)室出具CNAS測(cè)試報(bào)告，結(jié)案。