電源完整性檢測(cè)，電源完整性影響，電源完整性修改方案

主要是因?yàn)?，?duì)于低頻應(yīng)用，開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)更多靠的是經(jīng)驗(yàn)，或者功能級(jí)仿真來(lái)輔助即可，電源完整性分析好像幫不上大忙，而對(duì)于50M -100M以?xún)?nèi)的中低頻應(yīng)用，開(kāi)關(guān)電源中電容的設(shè)計(jì)，經(jīng)驗(yàn)法則在大多數(shù)情況下也是夠用的，甚至一些芯片公司提供的Excel表格型工具也能搞定這個(gè)頻段的問(wèn)題，而對(duì)于100M以上的應(yīng)用，基本就是IC的事情了，和板級(jí)沒(méi)太大關(guān)系了，所以電源完整性仿真，除非能做到芯片到芯片的解決方案，加上封裝以及芯片的模型，純粹做板級(jí)的仿真意義不大，真是這樣嗎？