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跌落試驗(yàn)的判定標(biāo),跌落試驗(yàn)高度標(biāo)準(zhǔn)

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-20 08:30
最后更新: 2023-12-20 08:30
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對(duì)于不同規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm 150cm不等,IEC對(duì)于2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。

試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.8,ISTA,ASTM D4169,IEC,GB-T4857.5等。


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