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壽命老化測試-可靠性測試-第三方檢測機構

品牌: 中科檢測
資質(zhì): CMA/CNAS
服務內(nèi)容: 充電樁檢測
單價: 1000.00元/件
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 廣東 深圳
有效期至: 長期有效
發(fā)布時間: 2023-12-21 04:01
最后更新: 2023-12-21 04:01
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詳細說明

  克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標準而設立了汽車電子會(AEC),AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil:汽車電子協(xié)會”的簡稱,是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認定標準的規(guī)格化為目的的團體,AEC建立了質(zhì)量控制的標準。同時,由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時采用,促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿,并推動了汽車零件通用性的實施,為汽車零部件市場的成長打下基礎。


  壽命老化測試


  芯片可靠性驗證(RA):


  芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113;


  高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103;


  溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104;


  溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101;


  高加速應力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110;


  高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108;


  高溫老化壽命試驗


  AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗,且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是,第三方難以立完成AEC-Q100的驗證,需要晶圓供應商、封測廠配合完成,這*加考驗對認證試驗的整體把控能力。中科檢測將根據(jù)客戶的要求,依據(jù)標準對客戶的IC進行評估,出具合理的認證方案,從而助力IC的可靠性認證



  芯片材料分析:


  高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF);


  SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)


  Raman(Raman光譜)


  AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量)



  以下供大家參考使用:


  AEC-Q100Rev-Gbase:集成電路的應力測試標準(不包含測試方法)


  AEC-邦線切應力測試


  AEC-人體模式靜電放電測試


  AEC-機械模式靜電放電測試


  AEC-集成電路閂鎖效應測試


  AEC-可寫可擦除的性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試


  AEC-熱電效應引起的寄生閘漏電流測試


  AEC-故障仿真和測試等級


  AEC-早期壽命失效率(ELFR)


  AEC-電分配的評估


  AEC-錫球剪切測試


  AEC-帶電器件模式的靜電放電測試


  AEC-系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述


  AEC-:分立半導體元件的應力測試標準(包含測試方法)


  AEC-:人體模式靜電放電測試


  AEC-:機械模式靜電放電測試


  AEC-:邦線切應力測試


  AEC-:同步性測試方法


  AEC-:帶電器件模式的靜電放電測試


  AEC-:12V系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述


  AEC-:半導體被動元件的應力測試標準(包含測試方法)


  AEC-:阻燃性能測試


  AEC-:人體模式靜電放電測試


  AEC-:斷裂強度測試


  AEC-:自恢復保險絲測量程序


  AEC-:PCB板彎曲/端子綁線應力測試


  AEC-:端子應力(貼片元件)/切應力測試


  AEC-:電壓浪涌測試


  AEC-Q100作用


  中科檢測,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等技術服務,在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業(yè)務規(guī)模處于國內(nèi)水平。


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